射線探傷方法是磁粉探傷機(jī)中五大常規(guī)探傷方法之一，磁粉探傷機(jī)中的射線探傷是利用射線的穿透性和直線性來(lái)探傷的方法。

常用于磁粉探傷機(jī)探傷的射線有x光和同位素發(fā)出的γ射線，分別稱為x光探傷和γ射線探傷。當(dāng)這些射線穿過(guò)物質(zhì)時(shí)，該物質(zhì)的密度越大，射線強(qiáng)度減弱得越多。因此，用射線來(lái)照射待探傷的零部件時(shí)，若其內(nèi)部有氣孔、夾渣等缺陷，射線穿過(guò)有缺陷的路徑比沒(méi)有缺陷的路徑所透過(guò)的物質(zhì)密度要小得多，其強(qiáng)度就減弱得少些，即透過(guò)的強(qiáng)度就大些，若用底片接收，則感光量就大些，就可以從底片上反映出缺陷垂直于射線方向的平面投影；若用其它接收器也同樣可以用儀表來(lái)反映缺陷垂直于射線方向的平面投影和射線的透過(guò)量。

一般情況下，磁粉探傷機(jī)中的射線探傷是不易發(fā)現(xiàn)裂紋的，或者說(shuō)，磁粉探傷機(jī)中的射線探傷對(duì)裂紋是不敏感的。因此，磁粉探傷機(jī)中的射線探傷比較適用于體積型缺陷探傷。公司網(wǎng)址：make24.cn